介质损耗分析法在局部放电检测中应用

  局部放电检测方法之电测法，局部放电最直接的现象即引起电极间的电荷转移，从而引起试样外部电极上的电压变化。

  气隙中局部放电持续时间很短，10ns量级;油隙中1us量级。根据Maxwell电磁理论，如此短持续时间的放电脉冲会产生高频的电磁信号向外辐射。

  局部放电检测仪的局部放电电检测法，即是基于电荷转移和电磁辐射这两个原理。

  介质损耗分析法(Dielectric loss analysis， DLA)局部放电对绝缘材料的破坏作用与局部放电消耗的能量直接相关，因此对放电消耗功率的测量能够定性反映出局部放电性质。

  Tgo能够反映介质损耗， 介质损坏将导致tgo增加。因此可以通过测量tgo值来反映局部放电能量，从而判断绝缘材料和结构的性能情况。

  介质损耗分析法(Dielectric loss analysis，DLA)介质损耗分析法特别适用于测量低气压中存在的辉光或者亚辉光放电。

  辉光放电不产生放电脉冲信号，而亚辉光放电的脉冲上升沿时间太长，普通的脉冲电流法检测装置中难以检测出来。

  但这种放电消耗的能量很大，使得tgo很大，故只有采用电桥法检测tgo才能判断这种放电的状态和带来的危害。

  介质损耗分析法方法只能定性测量局部放电是否发生，不能检测局部放电量的大小， 这限制了介质损耗分析法方法的运用。

  在没有局部放电检测仪或其它局部放电检测试验设备的情况下，可以采用介质损耗分析法判断是否存在局部放电，然后再结合局部放电检测仪检测局部放电量的大小。