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抗干扰异频介损测试仪测量原理方法

抗干扰异频介损测试仪,适用于车间、试验室、科研单位测量高压电器设备的tgδ及电容量,抗干扰异频介损测试仪可用正、反接线方法测量不接地或直接接地的高压电器设备。同时可以测量电容式电压互感器的tgδ及主电容C1、C2电容量。抗干扰异频介损测试仪内部装备了高压升压变压器,并采取了过零合闸、防雷击等安全保护措施,试验过程中输出0.5KV~10kV不同等级的高压,操作简单、安全。

  电介质的损耗:绝缘介质在交流电压的作用下,介质中流过电流,电介质中的部分电能将转变成热能,这部分能量称为电介质损耗。抗干扰异频介损测试仪做介质损失测试是对设备绝缘状况的有效判断。

  抗干扰异频介损测试仪介质损耗测试的办法:测试介质的损失角,即介质上所做功产生的热量对介质绝缘的影响。

  介质中形成的电流分两部分:一部分是电容的无功电流,另一部分是引起损耗的有功电流。

抗干扰异频介损测试仪

  有功电流又分为三部分电流,分别产生三种损耗:

  电导损耗:由通过介质的电导电流引起的损耗;

  极化损耗:极化过程中介质的电荷在交变电场下反复排列,作周期运动时克服摩擦所形成的吸收电流引起的损耗;

  游离损耗:气体中的电晕,液体、固体中的局部放电生成的电流引起的损耗。

  测量CVT接线

  测量CVT中间变压器接线

  测量串极式PT二次绕组接线

  测量串极式PT支架接线

  两种接线的适用范围:

  正接线适用于被试品整体可以与地隔离;反接线适用于被试品不能与地隔离时。

  测量tanδ时影响测试结果的因素和消除方法:

  1、温度和湿度的影响。

  2、电场干扰影响及消除方法:测试时排除电场干扰的方法主要有屏蔽、选相、倒相法、移相法和采用反干扰平衡干扰等方法。

  3、避免外界磁场干扰。

  4、试品表面泄露的影响及消除方法:

  利用屏蔽环将表面泄露电流直接回流到试验电源,避免表面泄漏电流进入仪器测量系统引起误差。但是试验中一般不加屏蔽环,加了会改变等值电路,除非天气潮湿需加屏蔽环。

  试验结果的判断及注意事项:

  1、被试品容量较大时,tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。

  2、注意温度影响。

  3、试验电压变化对tanδ测试结果的影响。